手持X射線熒光光譜儀有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)呢

　　手持X射線熒光光譜儀是一種新的分析技術(shù)，在冶金、地質(zhì)勘探、建材、環(huán)保等各個(gè)方面都有廣泛應(yīng)用，對(duì)比其他分析檢測(cè)方法，X射線熒光光譜儀有什么優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)呢：

　　(1) X射線熒光(XRF)分析方法分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般只需2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

　　(2) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。

　　(3)X射線熒光(XRF)分析方法是非破壞分析。測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　(4)X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　(5)X射線熒光(XRF)分析方法分析精密度高，常規(guī)的樣品基本上可以通過(guò)X射線熒光(XRF)分析方法完成元素的分析。

　　任何一種分析儀方法都存在一定的缺點(diǎn)，而X射線熒光光譜儀對(duì)于輕元素的靈敏度要低一些，比如鋁鎂硅磷這些輕元素，需要用更先進(jìn)的探測(cè)器和技術(shù)計(jì)算方法做測(cè)試。

　　因此，X射線熒光(XRF)分析方法還是比較方便，簡(jiǎn)單，便捷的元素分析方法，是能夠幫助用戶了解物質(zhì)材料成分的一款有效的儀器。

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